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[한국공학대학교] 재료의 물성 측정 장치 및 방법

  • escho2
  • 2024년 5월 22일
  • 1분 분량

최종 수정일: 2024년 5월 27일

술명

재료의 물성 측정 장치 및 방법

기술보유기관

한국공학대학교

출원번호

10-2019-0153323(2019.11.26.)

등록번호

10-2285334(2021.07.28.)

기술완성도

TRL 4

적용분야

반도체 메모리 분야

기술분야

기계

문의처

02-6274-5604 / khlee@isan.co.kr

첨부파일



○ 기술개요

  • 본 기술은 재료의 물성을 측정할 수 있는 장치 및 방법에 관한 것이며, 상전에 메모리 물질의 용해 및 냉각 특성을 간단하면서도 효과적으로 측정할 수 있는 기술임

  • 재료의 용해 및 냉각 특성 측정 시 열전대와 측정 대상물의 반응을 방지하여 정확한 실험 결과를 얻을 수 있음

     

○ 기술특징

  1. 기존 기술의 한계

  • 종래에는 재료의 용해 및 냉각 특성을 측정하기 위해서 크루서블 등의 용기 내에서 측정 대상물을 넣고 가열•냉각하는 방식을 주로 사용하였는데, 이는 고가의 복잡한 설비가 필요하다는 단점이 존재함

  • 측정 대상물이 크루서블 내면 전체와 접하게 되어 반응 생성물이 형성될 가능성이 높기 때문에 측정이 부정확하게 이루어질 수 있음

  2.  본 기술의 우위성

  • 간단한 구조로 상전이 메모리 물질과 같은 재료를 가열하여 용해시키는 동시에 온도를 유지하고 냉각시킬 수 있도록 구성함으로써 용해 및 냉각 거동을 용이하게 측정할 수 있음

  • 재료의 용해 및 냉각 과정을 실시간으로 촬영함으로써 상전이 거동의 연속적인 측정이 가능하다는 장점이 있음

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